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湖北开放式荧光寿命成像生产

来源: 发布时间:2022年06月06日

时域法荧光寿命的测量和荧光寿命成像主要有时间相关单光子计数法(time correlated single photon counting, TCSPC)、门控探测法(time-gated detection)、条纹相机测量法(streak-FLIM)、频闪技术等四种常见的方法。TCSPC是目前测量荧光寿命的主要技术,同轴脉冲光源发出的脉冲光引起起始光电倍增管产生电信号,该信号通过恒分信号甄别器1启动时幅转换器(time-amplitude converter,TAC),时幅转换器产生一个随时间线性增长的电压信号。此外,同轴脉冲光源发出的脉冲光通过激发单色器后到达样品池,样品产生的荧光信号再经过发射单色器到达终止光电倍增管,由此产生的电信号经由恒分信号甄别器2到达时幅转换器并使其停止工作。此时,时幅转换器根据累积电压输出一个数字信号并在多通道分析仪(multi-channel analyzer)的相应时间通道计入一个信号,表明检测到寿命为该时间的一个光子。经过几十万次的重复后,不同的时间通道累积下来的光子数目不相同。荧光寿命成像能够灵敏地反应荧光基团生化特性以及周围微环境的变化情况。湖北开放式荧光寿命成像生产

荧光寿命成像FLIM相比于荧光强度成像更有优势。通过荧光强度成像可以获得荧光分子的空间分布,较为直接和简便,但是当荧光分子具有相似的频谱特性,或是同样的荧光分子在不同环境下时,依赖强度进行成像的方案便无法准确反映信息。与基于光强的成像方式不同,荧光寿命成像FLIM适用于测量荧光分子环境的变化,或是测量分子的运动情况。其结果与荧光分子浓度无关,且不受影响光强的光散射或是光吸收影响,可以精确测量荧光淬灭过程,对生物分子微环境进行定量测量。佛山分子荧光寿命成像制造荧光寿命成像可以提供荧光强度(光子数)和光子寿命的空间分布。

荧光分子受激发后发光,荧光寿命量化了发光的衰减率。该特征时间不但取决于特定的荧光团,还取决于其环境,分子相互作用影响弛豫过程并改变荧光团的寿命。荧光寿命是微环境的相对参数,不受环境吸收、样本浓度等因素影响,因此能够对生物组织环境中的 p H 值水平、离子浓度、氧分子浓度等微环境状态进行高精度检测。荧光寿命显微成像(FLIM),可以定位不同的分子及浓度分布,在生物,材料,半导体领域具有重要的应用价值。荧光寿命成像原理及应用说明:荧光寿命是指分子受到光脉冲激发后返回基态之前在激发平均停留的时间,处于激发态的荧光分子在从激发到基态的过程中发射荧光释放能量。荧光寿命取决于荧光分子所处的微环境,通过对样品荧光寿命的测量和成像可以定量获取样品的功能信息。

影响荧光寿命成像测量的因素有哪些?散射光的影响: 主要是瑞利散射光和拉曼散射光的影响较大。校正办法:先用短的激发光激发,检出溶液的拉曼峰,然后进行荧光光谱校正。因为荧光光谱不随激发光波长的改变而改变,而拉曼光却随之改变。高浓度样品的影响:1)当激发光照射高浓度样品时,在激发光入口附近产生荧光,但这些荧光并不能进入荧光检测器。2)高浓度的分子之间相互作用而发生活性阻碍现象。3)荧光的再吸收:即荧光光谱的短波长端和激发光谱的长波长端如果相互重叠,则发生荧光再吸收。随着技术的发展,在显微镜视野内进行超快速全像素荧光寿命信号采集的荧光寿命成像成为可能。

荧光寿命成像可以提供荧光强度(光子数)和光子寿命的空间分布,具有200 nm的空间分辨率和皮秒量级的时间分辨率。通过双光子激发(结合飞秒脉冲和共焦显微镜)可以直接检测荧光和时间分辨的荧光寿命。这种无损检测技术,无需解剖或专门制造分层样品,不但可在样品表面,还可在样品表面以下实现深度解析测量。特别适用于新材料、光子学、光伏、光催化、生物材料、纳米材料和纳米复合材料以及其相关的原理探究和设计优化。荧光寿命成像图像中每一个像素点在phasor图上都有一个对应的点。因此我们可以获取每个像素点的寿命信息,也可以获知每一寿命所对应的图像区域。荧光寿命成像(FLIM)可用于测量分子环境参数。湖北开放式荧光寿命成像生产

荧光寿命是用于几种生物测定的稳健参数。湖北开放式荧光寿命成像生产

荧光寿命成像是一种新型的荧光成像技术,它能够对不同种类或处于不同状态的生物组织提供更好的对比度,并反映荧光团及其所处微环境参数的定量分布。荧光寿命成像一般不受诸如激光或荧光强度扰动、荧光染料分布不均匀、染料的光漂白以及其他有碍荧光强度的因素的影响,是荧光光谱分析法的有效补充。超快激光技术,高速、高灵敏度探测技术,以及图像处理技术的发展,都促进了FLIM 技术的发展.尤其是将荧光寿命成像和共焦显微技术以及多光子激发荧光显微技术结合,进一步拓宽了FLIM在生物学领域的应用范围。湖北开放式荧光寿命成像生产

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